"Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи"

Конструювання радіоелектронної апаратури розробленої в системі автоматизованого проектування без додаткового налаштування

Грицевич І. Р., магістрант, Піддубний В. О., к.т.н. доцент.

Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», м. Київ, Україна

Анотація

Представлено прилад для автоматизованого дослідження електричних характеристик напівпровідників, що дозволяє корегувати параметри математичної моделі біполярних транзисторів в САПР. Описано алгоритм роботи приладу. Обґрунтовано доцільність корекції параметрів в бібліотеці САПР для проектування РЕА без наступного її налаштування.

Ключові слова: параметри моделей, характеристики транзистора, САПР.

Аннотация

Представлен прибор для автоматизированного исследования электрических характерыстик полупроводников, который позволяет корректировать параметры математической модели биполярных транзисторов в САПР. Описан алгоритм работы прибора. Обоснованно целесообразность коррекции параметров в библиотеке САПР для проектирования РЭА без последующей ее настройки.

Ключевые слова: параметры моделей, характеристики транзистора, САПР.

Abstract

Presented is the contingency for the automated dosage of electric characteristics, which allows to adjust the parameters of the mathematical model of bipolar transistors in CAD. The robotics algorithm is described. The rationale for the correction of parameters in the CAD library for the design of CEA without further adjustment is justified.

Keywords: parameter models, transistor characteristics, CAD.

...

 

Коментарі  

 
# Адаменко В. О. 20.03.2018 17:18
Доброго дня. А як у Вас реалізований модуль формування тестових напруг?
 
 
# Грицевич 23.03.2018 18:34
Мікроконтролер який використовується в пристрої має декілька виходів ШІМ сигналу, реалізованого на апаратному рівні. Було прийнято рішення скористатися цим інструментом і подати ШІМ сигнал на LC фільтр і нарешті, поставити буфер (емітерний повторювач). Це рішення є обгрунтованим, оскільки, типове рішення використання DAC, важко реалізується для формування негативних тестових напруг, або є економічно нераціональним.
 
 
# Адаменко В. О. 25.03.2018 14:11
Але ж в такому випадку у Вас тестова напруга не перевищить 5 В.
 
 
# Грицевич 29.03.2018 12:32
Логічні рівні розширюються за допомогою каскаду зі спільним емітером перед подачею на LC фільтр.
 

Додавати коментарі можуть лише авторизовані користувачі. Введіть логін та пароль або зареєструйтеся.

Пошук

Авторизація


Останні коментарі

Joomla inotur picma